在电子产品的设计与制造过程中，跌落试验是一项至关重要的测试环节。GJB（国防科学技术工业委员会）标准规定了电子产品在特定条件下进行的跌落试验的具体要求。以下是对GJB跌落试验标准的详细介绍。
GJB跌落试验标准主要包括以下几个方面：
一、试验目的
GJB跌落试验旨在检验电子产品在模拟实际使用环境中，因意外跌落造成的损害程度，以及产品结构设计的耐冲击性能。
二、试验设备
跌落试验机：应符合国家标准，具备可调节的跌落高度和角度，以确保试验的准确性。
试样台：用于放置被测试的产品，应具有足够的稳定性和平面度。
测量工具：如游标卡尺、电子秤等，用于测量产品的尺寸和重量。
三、试验条件
跌落高度：根据产品的重量和尺寸，分为几个等级，通常为0.5米、1米、1.5米等。
跌落角度：产品应以自由落体的方式，垂直于试验台面进行跌落。
试验次数：根据产品的设计要求和使用环境，确定试验次数，一般为3次至10次。
四、试验步骤
将产品放置在试样台上，调整试验机至指定高度。
启动试验机，使产品从规定高度自由落体，撞击试验台面。
观察产品跌落后的外观、结构及功能状态，记录数据。
重复上述步骤，直至完成规定的试验次数。
五、试验结果评定
外观检查：检查产品跌落后是否出现明显损坏，如开裂、变形等。
功能测试：检查产品在跌落后的功能是否正常，如按键、显示屏、接口等。
结构评定：分析产品在跌落过程中的损坏部位，评估结构设计的合理性。
通过GJB跌落试验标准的实施，可以有效提升电子产品在极端环境下的可靠性，为用户带来更加安全、稳定的体验。同时，也为电子产品的设计者和制造者提供了明确的测试依据和改进方向。
